環(huán)境試驗設(shè)備標準及共性問題
環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標準，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標準。
我國的環(huán)境試驗設(shè)備標準（以下簡稱“設(shè)備標準”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準（以下簡稱“方法標準”）起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期。貴公司所要的標準都可以去“國標網(wǎng)”上去查一查,那上面有你全部你所需要的資料.我這里就把我們平常的一些參數(shù)供貴公司參考.。
二、環(huán)境試驗設(shè)備標準
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標準共有九項：
GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件 GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件 GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件 GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件 GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件
2、環(huán)境試驗設(shè)備標準及共性問題
1）適用范圍
在上述的九項標準中都明確規(guī)定了本標準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標準所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。
2）適應(yīng)性
按設(shè)備標準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
3）操作性
設(shè)備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標準在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
4）修訂設(shè)備標準的不足之處
九項設(shè)備標準起草于上世紀八十年代，隨著科學技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標準是必須的。
3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項
1）對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項
A）溫度：15℃~35℃
B）相對濕度：不大于85%RH
C）大氣壓強：86Kpa~106Kpa
D）熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射
E）氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上
F）電磁場：無強烈電磁場
G）三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H）冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa
I）加濕水源：電阻率不低于500Ωm
J）電源：220±22V、380±38V、50±0.5Hz
2）負載要求：
A）負載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等（鹽霧試驗除外）
B）負載條件：
· 負載總質(zhì)量：50~80Kg/m3
· 負載總體積：不大于工作室容積的1/5
· 阻擋主風道總面積：不大于主風道所處工作室截面積的1/3
· 鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊（1~2）mm
· 種類：金屬
· 樣品數(shù)：160塊/m2（工作室水平面面積計）
三、環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準（氣候試驗設(shè)備） 1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準共有六項：
GB/T5170.2－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11－1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
2、方法標準的幾個共同問題
1）標準適用范圍：在六項方法標準中明確規(guī)定了該類標準是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2）適應(yīng)性：按方法標準檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。
3）操作性：本類標準在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點：
1）各分標準使用時應(yīng)與總則一起使用。
2）對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標準及總則一起使用
3）檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標準相一致。
4）負載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標準GB11158中規(guī)定保持一致。
四、標準與檢定方法標準差異辨析
對照內(nèi)容 | 設(shè)備標準 | 方法標準 |
適用范圍 | 產(chǎn)品的出廠檢驗及型式檢驗與質(zhì)量監(jiān)督檢驗 | 試驗設(shè)備的周期檢定 |
環(huán)境條件 | 具有一致性 |
負載條件 | 有三項要求（鹽霧試驗箱例外） | 按設(shè)備標準GB11158中的規(guī)定 |
檢驗項目 | 對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進行綜合性能檢驗（包括標志、包裝、儲存） | 按試驗方法要求對試驗設(shè)備進行檢驗 |
受檢對象 | 生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品 | 外形、結(jié)構(gòu)、標志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常 |
檢驗類型 | 型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢驗 | 周期檢驗 |
檢驗結(jié)果分類 | 合格、不合格、批合格、批不合格 | 合格、準用、停用 |
結(jié)果處理 | 合格出廠、不合格不準出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓 | 合格—發(fā)合格證（或部分合格限使用范圍）
準用—發(fā)準用證
停用—發(fā)停用證 |
五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標準與試驗方法標準的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標準是一種產(chǎn)品標準對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標準。
2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標準對試驗設(shè)備進行檢定。
3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標準
試驗方法標準 | 檢定方法標準 |
代號 | 名稱 | 代號 | 名稱 |
GB2423.1 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A：低溫 | GB5170.2 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 |
GB2423.1 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B：高溫 |
GB2423.22 | 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法 |
GB2423.3 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca：恒定濕熱 | GB5170.5 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 |
GB2423.4 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱 |
GB2423.9 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱 |
GB2423.16 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J：長霉 |
GB2423.17 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧 | GB5170.8 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 |
GB2423.18 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb：交變鹽霧 |
GB2423.19 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗 | GB5170.11 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗設(shè)備 |
GB2423.20 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法 |
六、進行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風橫截對設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
4、適當選擇試驗的嚴酷度
七、結(jié)束語
通過對環(huán)境試驗設(shè)備標準及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準的初步分析，兩類標準各自有其獨立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準確理解兩類標準的適用范圍，熟悉兩類標準技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準確貫徹、切實執(zhí)行兩類標準的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標準而共同努力。
附1 環(huán)境試驗設(shè)備標準對測試用負載條件
匯 總 表
負載條件名稱 | 要求或參數(shù) | 適用標準號 |
品種 | 1、電工、電子產(chǎn)品或絕緣材料 2、其他產(chǎn)品、零部件 | GB10586 GB10588 GB10589 GB10590 GB10591 GB10592 GB11158 GB11159 |
總質(zhì)量 | （50~80）Kg/m3 |
總體積 | ≤1/5 Vｗ（工作室容積） |
阻擋主風道面積 | ≤1/3 Sｗ（該工作室截面積） |
金屬板 | 50＊100＊（1~2）mm | GB10587 |
樣品數(shù)量 | 至少160塊/m2（工作室水平面面積） |
附2 我國環(huán)境試驗設(shè)備標準中設(shè)備使用基本環(huán)境條件對照表
環(huán)境條件名稱 | 環(huán)境條件參數(shù)或要求 | GB
10586 | GB
10587 | GB
10588 | GB
10589 | GB
10590 | GB
10591 | GB
10592 | GB
11158 | GB
11159 |
溫度 | 15℃~35℃ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
相對濕度 | ≦85% | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
大氣壓強 | 85Kpa~
106Kpa | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
熱輻射 | 無陽光直射到箱體，無熱源越冬輻射箱體 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
氣流 | 箱體周圍無強烈氣流，需用時，不可直接吹到箱體 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
電磁場 | 周圍無強烈電磁場 | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
三廢影響 | 無高深度粉塵及腐蝕性物質(zhì)（氣、液、固體） | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ | √ |
冷卻水源 | 溫度不大于30℃，水壓為0.1~0.3Mpa | √ | － | √ | √ | √ | － | √ | √ | √ |
加濕水泵 | 電阻率不低于50Ω.M | √ | － | √ | － | － | － | － | － | － |
電源 | 電壓：220±22V/380±38V，頻率：50±0.5Hｚ | √ | √ | √ | √ | √ | | | | |
環(huán)境試驗設(shè)備標準及共性問題
